![[PukiWiki]](image/XYstage.jpg "[PukiWiki]")
#author("2019-02-16T02:01:12+00:00","default:hiroshi","hiroshi") #side(News) #author("2023-09-03T05:22:34+00:00","default:hiroshi","hiroshi") *第４３回井上春成賞を受賞しました。&br;The 43rd Inoue Harushige Prize is presented.&br;2018-07-18 [#x402a4ed] #ref(2018-07-18G.jpg,right,around,zoom,250x250) ラボ教員がｓａｎｔｅｃ株式会社との産学連携研究成果により、[[井上春成賞>http://inouesho.jp/index.html]]を受賞しました。 井上春成賞は、国立研究開発法人科学技術振興機構の前身のひとつである新技術開発事業団の初代理事長であり、工業技術庁初代長官でもあった井上春成氏がわが国科学技術の発展に貢献された業績に鑑み、新技術開発事業団の創立１５周年を記念して創設された賞です。 [[The 43rd Inoue Harushige Prize>http://inouesho.jp/en/index.html]] is presented to the lab faculty due to the academic-industrial collaboration. #clear #ref(2018-07-18F.jpg,right,around,zoom,250x250) -''受賞題目（和文）'' 高速ＭＥＭＳ光スキャナを用いた医療・非破壊検査用ＯＣＴ光源の開発 -''受賞題目（英文）'' Development of OCT Light Source for Medical and Nondestructive Visual Inspection using High-Speed MEMS Optical Scanner -''受賞者（研究者）'' 年吉 洋（東京大学 先端科学技術研究センター 教授） -''受賞者（企業）'' 鄭 台鎬（[[ｓａｎｔｅｃ株式会社>http://www.santec.com/jp/]] 代表取締役社長） -''受賞式'' ２０１８年７月１８日（水）１１：００〜１３：００、[[日本工業倶楽部会館>http://www.kogyoclub.or.jp/building.html]]大会堂 -''Awarded Subject'': Development of OCT Light Source for Medical and Nondestructive Visual Inspection using High-Speed MEMS Optical Scanner -''Recipient (academia)'': Hiroshi Toshiyoshi, Ph.D., Professor, Research Center for Advanced Science and Technology, The University of Tokyo -''Recipient (industry)'': Daiko Tei, Ph.D., President & CEO, [[SANTEC CORPORATION>http://www.santec.com/en/]] #clear #ref(2018-07-18E.jpg,right,around,zoom,250x250) -[[ＪＳＴサイエンスポータル記事>https://scienceportal.jst.go.jp/news/newsflash_review/newsflash/2018/07/20180719_01.html]] -[[先端研ニュース記事>http://www.rcast.u-tokyo.ac.jp/research/report/2018/0731_ja.html]] -[[井上春成賞ＨＰ>http://inouesho.jp/jyusyou/43/index.html]] #clear //#ref(2018-07-18C.jpg,right,around,zoom,220x200) #ref(2018-07-18B.jpg,right,around,zoom,250x250) #clear //#ref(2018-07-18D.jpg,right,around,zoom,250x250) #clear *展示ポスター [#fb03a313] **１．光断層計測法（ＯＣＴ）の課題は高速化 [#sa67f51e] #ref(Figure_1.jpg,right,around,zoom,260x260) ＯＣＴ((OCT = Optical Coherence Tomography))とは、光の干渉を利用して深さ方向の戻り光強度を探りながら（Ａスキャン）、ビームスポットを横方向に走査して（Ｂスキャン）断層画像を取得する光学技術です。従来のＯＣＴでは深さ方向の走査速度が遅く、１画素の計測時間内にビームスポットが横に流れて、鮮明な画像が得られませんでした。 本研究では、ＭＥＭＳ技術((MEMS = Micro Electro Mechanical Systems))を用いてＯＣＴの深さ方向スキャンを高速化し、動く生体試料や高速で流れる工業製品でも高分解能で可視化する技術を開発しました。 #clear **２．計測方法の高速化 [#s43114b6] #ref(Figure_2.jpg,right,around,zoom,260x260) ＯＣＴには参照ミラーを動かして干渉計を調整する手法（左：時間領域ＯＣＴ）と、可変波長による干渉光を高速フーリエ変換して画像を取得する手法（右：波長走引ＯＣＴ）が知られています。本研究ではＭＥＭＳ光スキャナを用いて後者をさらに高速化しました。 #clear **３．ＭＥＭＳによる波長可変光源の高速化 [#tc3860a2] #ref(Figure_3.jpg,right,around,zoom,260x260) 従来の波長走引ＯＣＴの光源には、モーターで回転するポリゴンスキャナが使われていました。本研究ではこれを静電駆動型のＭＥＭＳ光スキャナで置き換えて、波長走引速度（深さ方向のスキャン速度）を５倍以上に高速化しました。 #clear **４．高速ＯＣＴの計測例 [#qc1955e1] #ref(Figure_4.jpg,right,around,zoom,260x260) 高速ＯＣＴの利点として、同じフレームレートであればより高解像度の画像が撮れます。また、動く生体試料や製造ラインの製品を短時間で可視化できます。 #clear このパネルではｓａｎｔｅｃ株式会社と東京大学生産技術研究所との共同研究成果を紹介しています。
