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第４３回井上春成賞を受賞しました。
The 43rd Inoue Harushige Prize is presented.
2018-07-18†

ラボ教員がｓａｎｔｅｃ株式会社との産学連携研究成果により、井上春成賞を受賞しました。

井上春成賞は、国立研究開発法人科学技術振興機構の前身のひとつである新技術開発事業団の初代理事長であり、工業技術庁初代長官でもあった井上春成氏がわが国科学技術の発展に貢献された業績に鑑み、新技術開発事業団の創立１５周年を記念して創設された賞です。

The 43rd Inoue Harushige Prize is presented to the lab faculty due to the academic-industrial collaboration.

受賞題目（和文）　高速ＭＥＭＳ光スキャナを用いた医療・非破壊検査用ＯＣＴ光源の開発
受賞題目（英文）　Development of OCT Light Source for Medical and Nondestructive Visual Inspection using High-Speed MEMS Optical Scanner
受賞者（研究者）　年吉　洋（東京大学先端科学技術研究センター教授）
受賞者（企業）　　鄭　台鎬（ｓａｎｔｅｃ株式会社代表取締役社長）
受賞式　２０１８年７月１８日（水）１１：００〜１３：００、日本工業倶楽部会館大会堂

Awarded Subject: Development of OCT Light Source for Medical and Nondestructive Visual Inspection using High-Speed MEMS Optical Scanner
Recipient (academia): Hiroshi Toshiyoshi, Ph.D., Professor, Research Center for Advanced Science and Technology, The University of Tokyo
Recipient (industry): Daiko Tei, Ph.D., President & CEO, SANTEC CORPORATION

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展示ポスター†

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１．光断層計測法（ＯＣＴ）の課題は高速化†

ＯＣＴ*1とは、光の干渉を利用して深さ方向の戻り光強度を探りながら（Ａスキャン）、ビームスポットを横方向に走査して（Ｂスキャン）断層画像を取得する光学技術です。従来のＯＣＴでは深さ方向の走査速度が遅く、１画素の計測時間内にビームスポットが横に流れて、鮮明な画像が得られませんでした。本研究では、ＭＥＭＳ技術*2を用いてＯＣＴの深さ方向スキャンを高速化し、動く生体試料や高速で流れる工業製品でも高分解能で可視化する技術を開発しました。

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